图书介绍
可靠性与环境试验参考资料 IEEE可靠性物理年会论文集选编 2PDF|Epub|txt|kindle电子书版本网盘下载
- 著
- 出版社： 可靠性与环境试验编辑部
- ISBN：
- 出版时间：1984
- 标注页数：76页
- 文件大小：10MB
- 文件页数：78页
- 主题词：
PDF下载
点此进入-本书在线PDF格式电子书下载【推荐-云解压-方便快捷】直接下载PDF格式图书。移动端-PC端通用种子下载[BT下载速度快]温馨提示：（请使用BT下载软件FDM进行下载）软件下载地址页直链下载[便捷但速度慢] [在线试读本书] [在线获取解压码]
下载说明
可靠性与环境试验参考资料 IEEE可靠性物理年会论文集选编 2PDF格式电子书版下载
下载的文件为RAR压缩包。需要使用解压软件进行解压得到PDF格式图书。建议使用BT下载工具Free Download Manager进行下载,简称FDM(免费,没有广告,支持多平台）。本站资源全部打包为BT种子。所以需要使用专业的BT下载软件进行下载。如BitComet qBittorrent uTorrent等BT下载工具。迅雷目前由于本站不是热门资源。不推荐使用！后期资源热门了。安装了迅雷也可以迅雷进行下载！
（文件页数 要大于 标注页数，上中下等多册电子书除外）
注意：本站所有压缩包均有解压码： 点击下载压缩包解压工具
图书目录
加速试验技术1
一种预测电迁移失效敏感性的可靠性工具——欧姆非线性脉冲技术的评价1
步进应力在评价与时间有关的击穿问题上的应用7
高加速温、湿度应力试验技术（HAST）13
失效机理及封装可靠性17
陶瓷电容器在低压直流应力下的漏电失效机理17
氮化硅密封对MOS器件稳定性的影响25
可靠性检测技术33
一种利用集成电路芯片来测量电路封装体内相对湿度的简单方法33
定量测量塑料封装引起的集成电路内应力的新方法43
一种利用液晶检测半导体器件热点的方法51
用容限电压测量来检测和判定数字微电路的缺陷54
MOS器件静电放电灵敏度的检测方法65
其他69
芯片粘接界面的物理性质69