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第一章　绪论1

1.1　材料工程的测试技术1

1.2　测量误差和提高准确度的方法1

1.2.1　测量误差概述1

1.2.2　提高测量准确度的方法3

1.3　检测的一般方法6

1.4　检测技术的新发展7

第二章　材料工程的测试系统10

2.1　测试系统的构成10

2.2　测试系统的分类10

2.2.1　按信号传输方式分类10

2.2.2　按系统实现装置分类11

2.3.1　静态特征12

2.3　测试系统的一般特性12

2.3.2　动态特性13

2.4　测试系统信息连接标准化和传递方式16

2.4.1　仪表系统的信号标准和传递方式16

2.4.2　计算机测试系统的总线及其规则17

第三章　检测转换原理22

3.1　概述22

3.2　电阻式传感器22

3.2.1　金属热电阻和半导体热敏电阻23

3.2.2　应变式电阻传感器27

3.2.3　电阻式传感器的测量电路32

3.3　电容式传感器37

3.3.1　概述37

3.3.2　电容式传感器的静态特性38

3.3.3　电容式传感器的测量电路42

3.3.4　电容式传感器的应用47

3.4　电感式传感器48

3.4.1　概述48

3.4.2　自感型传感器49

3.4.3　互感型传感器55

3.4.4　电感式传感器的应用64

3.5　磁电式传感器66

3.5.1　概述66

3.5.2　变压器电势66

3.5.3　切割电势69

3.5.4　磁电式传感器的应用71

3.6　热电式传感器71

3.6.1　概述71

3.6.2　热电效应72

3.6.3　热电偶的基本特性76

3.6.4　热电偶的测量电路77

3.6.5　热电偶的应用77

3.7　压电式传感器78

3.7.1　概述78

3.7.2　压电效应及压电材料78

3.7.3　压电特性79

3.7.4　压电式传感器的测量电路83

3.7.5　压电式传感器的应用88

3.8　霍尔式传感器89

3.8.1　概述89

3.8.2　霍尔式传感器的工作原理89

3.8.3　霍尔元件的特性90

3.8.4　霍尔式传感器的测量电路95

3.8.5　霍尔式传感器的应用96

3.9　光电式传感器98

3.9.1　概述98

3.9.2　光电探测器的基本参数99

3.9.3　光电效应及光子型探测器101

3.9.4　光电探测器的选用111

第四章　基本参量的测量112

4.1　温度量的测量112

4.1.1　温度和温标112

4.1.2　接触法测温113

4.1.3　辐射测温128

4.2　流体压力的测量137

4.2.1　流体压力和压力测量单位137

4.2.2　常见的压力测量方法与压力表的分类138

4.2.3　常用的压力测量仪表139

4.2.4　真空的测量142

4.2.5　压力测量仪表的选用145

4.3　流体流量测量146

4.3.1　流体流量和测量单位146

4.3.2　流体流量的测量方法和流量仪表分类147

4.3.3　常用流量计原理150

4.3.4　流量计的选用158

第五章　测控仪表163

5.1　概述163

5.1.1　材料测试的测控仪表163

5.1.2　我国测控仪表的概况163

5.2　检测仪表及变送器166

5.2.1　检测仪表构成原理166

5.2.2　变送器167

5.3　显示、记录仪表171

5.3.1　显示、记录仪表的分类171

5.3.2　常用的模拟式平衡结构显示仪表172

5.4　控制仪表174

5.4.1　概述174

5.4.2　DDZ-Ⅲ型PID基型调节器175

5.4.3　数字式控制仪表176

5.5　智能仪表179

5.5.1　概述179

5.5.2　智能仪表的一般结构181

5.5.3　智能仪表的性能特点181

6.1.2　调节系统的过渡过程184

6.1.1　自动调节系统的框图184

6.1　温度自动调节系统的基本概念184

第六章　温度的调节184

6.1.3　自动调节系统的品质指标186

6.2　温度的断续调节187

6.2.1　两位调节器187

6.2.2　三位调节器188

6.2.3　时间比例调节器189

6.3　温度的连续调节191

6.3.1　调节器的基本调节规律191

6.3.2　调节器调节规律的选型197

6.4　调节、控制及控制理论的发展198

6.4.1　经典控制理论198

6.4.2　现代控制理论201

6.4.3　大系统和复杂系统控制理论及智能控制理论203

主要参考文献204