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目录1

第一章　引言1

参考文献2

第二章　概率基本概念3

2.1　引言3

2.2　概率3

2.2.1　概率定律3

2.3　随机变量5

2.4　概率密度函数5

2.4.1　超几何密度函数5

2.4.2　正态密度函数6

2.5　参数和矩7

2.5.1　均值7

2.5.2　标准偏差和方差7

2.6　组合密度函数8

2.6.1　协方差和相关系数8

2.7　抽样分布9

2.7.1　统计数9

2.7.2　样本均值和样本方差9

2.7.3　样本均值的抽样分布9

2.7.4　样本方差的抽样分布10

2.7.5　t统计量10

2.8　随机抽样11

2.7.6　F统计量11

附录2.1　正态分布的坐标和值域13

附录2.2　卡方x2分布18

附录2.3　t分布20

附录2.4　F分布21

第三章　统计推断25

3.1　引言25

3.2　估计25

3.2.1　点估计25

3.2.2　置信区间估计25

3.2.3　模型中的参数估计26

3.3　假设检验26

4.2　误差来源30

4.2.1　统计抽样误差30

第四章　测量误差30

4.1　误差定义30

4.2.2　总体测量误差31

4.2.3　材料取样误差31

4.2.4　分析测量误差31

4.2.5　其它误差32

4.2.6　统计抽样误差分布32

4.3　误差表达模式32

4.3.1　加法模式33

4.3.2　其它模式33

4.4.1　随机误差34

4.4　误差的种类34

4.4.2　系统误差（偏差）35

4.4.3　短期系统误差36

4.5　误差的影响37

4.5.1　对设施MUF值的影响37

4.5.2　对视察员与设施操作员数据比对方面的影响38

4.6　误差的估算39

4.6.1　标准样品的测量39

4.6.1.1　单标准样品39

4.6.1.2　几个标准样品41

4.6.1.3　标准样品在不同时间内的测量44

4.6.2.1　常规标定方法和转换标定方法47

4.6.2　测量系统的标定47

4.6.2.2　线性标定；恒方差49

4.6.2.3　线性标定；非恒方差52

4.6.2.4　单点标定55

4.6.2.5　SAM-2仪器对铀-235百分率的标定59

4.6.2.6　几个标定数据集；线性模型61

4.6.2.7　线性标定，累积模型62

4.6.2.8　几个标定数据集；累积模型65

4.6.2.9　非线性标定66

4.6.2.10　非线性标定；几个标定数据集69

4.6.3　非标准物质的测量69

4.6.3.1　重复测量；方差分析70

4.6.3.2　双重测量；成对差71

4.6.3.3　格拉布（Grubb）分析法；两种测量方法72

4.6.3.4　格拉布（Grabb）分析法：多于两种测量方法，方法的相对偏差不变78

4.6.3.5　两个以上非恒量相对偏差的测量方法85

4.6.3.6　不同实验组合参数的估算87

4.6.3.7　在有异常数据情况下标准误差的计算90

4.6.4　在有舍入误差情况下的误差计算92

4.6.5　实验室间测试数据92

4.6.5.1　单一标准参考物质92

4.6.5.2　几个样本；非标准物质97

4.6.5.3　实验室相关的随机误差100

4.6.5.4　视察样品分发到几个试验室101

4.6.6　同位素相关技术107

参考文献109

第五章　误差传递111

5.1　误差传递定义111

5.2　误差传递，加法模式111

5.3　通用的误差传递，泰勒级数113

5.3.1　显函数113

5.3.2　隐函数115

5.4　计算MUF方差122

5.4.1　MUF定义122

5.4.2　误差传递公式的直接应用123

5.4.3.1　假设124

5.4.3　通用方法的元素MUF的方差124

5.4.3.2　符号说明125

5.4.3.3 MUF随机误差的方差125

5.4.3.4 MUF系统误差的方差129

5.4.3.5　恒定的绝对误差情况135

5.4.4　累加MUF方差137

5.4.4.1　连续MUF分析137

5.4.5　通用方法的同位素MUF方差142

5.4.5.1　总量和元素测量误差引入的同位素MUF方差143

5.4.5.2　同位素测量引入的同位素MUF方差145

5.4.6　其它因素对MUFF和它的方差的影响148

5.5　？方差的计算，差值统计分析149

5.5.1　？的定义150

5.5.2　误差传递公式直接应用的？方差151

5.5.3　？方差通用方法154

5.5.3.1　假设154

5.5.3.2　符号说明154

5.5.3.3 ？随机误差方差155

5.5.3.4 ？系统误差的方差158

5.5.4　同位素？的方差165

5.6　（MUF-？）统计分析170

5.6.1　（MUF-？）的应用170

5.6.2　（MUF-？）方差171

参考文献174

6.1　视察的目的176

6.1.1　衡算统计对转移情况的响应176

第六章　视察计划的设计176

6.2　视察活动178

6.2.1　属性视察活动178

6.2.2　变量视察活动179

6.3　视察方案设计准则179

6.3.1　属性视察准则179

6.3.2　变量视察准则180

6.3.2.1　属性方式的变量视察准则181

6.3.2.2　用？确定变量方式的变量视察准则181

6.4.1　属性视察样本量（总体缺陷）182

6.4.1.1　规定层的属性视察样本量182

6.3.2.3　用（MUF-？）确定变量方式的变量视察准则182

6.4　视察样本量的选择182

6.4.1.2　所有层的属性视察样本量184

6.4.1.3　博奕论结果186

6.4.1.4　在规定的时间内对存量层抽样187

6.4.2　变量视察样本量188

6.4.2.1　变量视察样本量—属性模型188

6.4.2.2　博奕论的结果191

6.4.2.3　变量视察样本量—变量方式192

6.5　视察计划的评价—单个检验205

6.5.1　主要检验与辅助检验之间的区别205

6.5.2　属性视察检验206

6.5.3 ？k检验和收发差检验208

6.5.4 ？检验210

6.5.5 MUF检验212

6.5.6　（MUF-？）检验213

6.6　目标量的检出总概率215

6.6.1　属性检验和（MUF-？）检验216

6.6.2　属性、？和MUF检验218

参考文献224

附录6.1　计算二元正态概率的函数T（h,a）的函数表A226

附录6.2　计算二元正态概率的函数（续）T（h,a）的函数表B234

附录6.3　？和MUF检验显著水平的可选择值242

7.1.1　抽取随机样本243

7.1.1.1　随机数表243

第七章　执行视察计划243

7.1　现场活动243

7.1.1.2　小型计算器244

7.1.1.3　计算机246

7.1.2　属性视察的缺陷准则247

7.1.2.1　整体缺陷——属性检验仪247

7.1.2.2　部分缺陷——变量检测仪249

7.1.3　比较同位素分布的缺陷准则250

7.1.4　缺陷的置信区间253

7.1.4.1　缺陷数253

7.2.1.1　正态性检验256

7.2　视察后活动256

7.2.1　假设的补充检验256

7.2.1.2　随机性检验259

7.2.1.3　方差检验263

7.2.1.4　Dk及发方／收方差值的检验265

7.2.1.5　衡算工作的国标标准266

7.2.2　假设的基本检验266

7.2.2.1 ？检验267

7.2.2.2 MUF检验267

7.2.2.3 （MUF-？）检验268

7.2.3 MUF的置信区间269

7.2.3.1　基于MUF的置信区间269

7.2.3.2　基于（MUF-？）的置信区间271

7.3　缺陷的影响：D和（MUF-？）的一般分析272

7.3.1　引言272

7.3.2　给定层的广义差统计量272

7.3.3　所有K层的广义差统计量280

7.3.4　广义的（MUF-？T）统计量282

7.3.5　调整后的MUF的置信区间283

7.3.6 （MUF-？T）与（MUF-？）的比较283

参考文献284

附录7.1　随机数286

附录7.2 An-i+1系数301

附录7.3 W-检验临界值304