图书介绍
数字射线无损检测技术PDF|Epub|txt|kindle电子书版本网盘下载
- 郑世才编著 著
- 出版社： 北京：机械工业出版社
- ISBN：9787111374107
- 出版时间：2012
- 标注页数：171页
- 文件大小：25MB
- 文件页数：179页
- 主题词：射线检验－图像处理
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图书目录
第1章 射线检测技术的物理基础1
1.1 射线概念1
1.1.1 射线分类1
1.1.2 X射线2
1.1.3 γ射线6
1.2 射线与物质的相互作用8
1.2.1 光电效应8
1.2.2 康普顿效应10
1.2.3 电子对效应10
1.2.4 瑞利散射11
1.3 射线衰减规律12
1.3.1 基本概念12
1.3.2 单色窄束射线衰减规律13
1.3.3 宽束连续谱射线的衰减规律14
1.4 射线检测技术的基本原理17
第2章 射线机与像质计19
2.1 X射线机19
2.1.1 X射线机的基本结构19
2.1.2 X射线管22
2.1.3 X射线机的类型25
2.1.4 X射线机的技术性能26
2.2 γ射线机30
2.3 加速器32
2.4 像质计33
2.4.1 像质计概述33
2.4.2 射线检测的常规像质计34
2.4.3 双丝型像质计38
2.5 线对卡40
第3章 辐射探测器42
3.1 辐射探测器概述42
3.2 辐射探测器的物理基础43
3.3 半导体辐射探测器47
3.3.1 半导体辐射探测器的原理47
3.3.2 半导体辐射探测器的基本结构48
3.3.3 非晶硅辐射探测器49
3.3.4 非晶硒辐射探测器51
3.3.5 闪烁体结合CCD（或CMOS）探测器51
3.4 闪烁辐射探测器52
3.4.1 闪烁辐射探测器的原理与结构52
3.4.2 光电倍增管53
3.4.3 图像增强器54
3.4.4 IP板56
3.5 气体辐射探测器57
3.6 A/D转换器60
第4章 成像过程基本理论62
4.1 成像过程概念62
4.2 成像过程的空间域分析63
4.3 成像过程的空间频域分析65
4.4 线扩散函数、边扩散函数与不清晰度69
4.5 瑞利判据72
第5章 数字图像基本理论74
5.1 数字图像概念74
5.2 图像数字化过程75
5.2.1 采样与采样定理75
5.2.2 图像幅值量化78
5.2.3 数字化对图像的影响80
5.3 数字射线检测图像质量82
5.3.1 数字射线检测图像的对比度82
5.3.2 数字射线检测图像的空间分辨率83
第6章 数字射线检测基本技术88
6.1 数字射线检测技术的基本过程88
6.2 数字射线检测技术控制的基本关系式89
6.2.1 检测图像对比度89
6.2.2 检测图像不清晰度90
6.3 透照技术92
6.3.1 透照布置92
6.3.2 透照参数94
6.3.3 最佳放大倍数95
6.3.4 散射线防护96
6.4 图像数字化技术98
6.4.1 图像数字化技术概述98
6.4.2 直接数字化技术辐射探测器选择98
6.4.3 间接数字化技术的图像数字化技术控制100
6.4.4 射线源焦点尺寸选择101
6.5 图像显示与观察技术102
6.5.1 图像显示与观察的视觉理论基础102
6.5.2 显示器的基本性能103
6.5.3 数字图像处理技术104
6.6 数字射线检测技术近似设计108
6.6.1 概述108
6.6.2 检测图像常规像质计指标设计109
6.6.3 检测图像空间分辨率指标设计110
6.6.4 数字射线检测技术近似设计实例115
6.7 等价性问题讨论116
6.7.1 等价性问题概述116
6.7.2 射线检测技术系统的分析117
6.7.3 等价性具体问题分析118
6.7.4 等价性厚度范围问题的其他处理方法124
第7章 常用数字射线检测技术127
7.1 分立辐射探测器直接数字化射线检测技术127
7.1.1 直接数字化射线检测技术系统127
7.1.2 直接数字化射线检测技术控制130
7.1.3 检测图像质量要求与技术应用132
7.2 CR技术——IP板间接数字化射线检测技术133
7.2.1 CR技术检测系统组成133
7.2.2 CR技术控制136
7.2.3 CR技术的图像质量控制139
7.3 图像增强器间接数字化射线检测技术140
7.4 微焦点数字化射线检测技术143
第8章 底片图像数字化扫描技术147
8.1 扫描仪147
8.1.1 扫描仪概述147
8.1.2 扫描仪的基本性能指标148
8.2 扫描技术151
8.2.1 图像扫描的基本过程151
8.2.2 空间分辨率设置151
8.2.3 扫描图像的后期处理153
8.3 扫描仪选用154
附录156
附录A 卷积概念与傅里叶变换概念156
附录B 采样定理的进一步说明164
附录C 射线照相检测技术的缺陷检验理论166
参考文献170