图书介绍
统计过程控制与评价 Cpk、SPC和PPM技术PDF|Epub|txt|kindle电子书版本网盘下载
- 贾新章，李京苑编著（西安电子科技大学电子信息学院） 著
- 出版社： 北京：电子工业出版社
- ISBN：7121002043
- 出版时间：2004
- 标注页数：186页
- 文件大小：65MB
- 文件页数：199页
- 主题词：电子元件－生产过程－统计控制：质量控制
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图书目录
第1章 概论1
1.1元器件常规可靠性评价方法存在的问题1
1.1.1评价和保证元器件质量和可靠性的传统方法1
1.1.2传统评价方法存在的问题2
1.2评价元器件内在质量和可靠性的新思路4
1.2.1基本观点4
1.2.2核心评价技术8
1.2.3核心评价技术的应用9
1.3电子元器件统计质量控制和评价的技术流程10
1.3.1元器件生产过程统计质量控制和评价的技术流程10
1.3.2元器件生产过程统计质量控制和评价技术11
本章主要结论13
习题与思考题14
第2章 工序能力指数与6σ设计15
2.1预备知识——工艺参数分布规律的定量描述15
2.1.1直方图15
2.1.2正态分布函数18
2.1.3概率纸25
2.2工序能力的定量表征和工艺成品率30
2.2.1工艺参数分散性与工序能力30
2.2.2工序能力指数CP32
2.2.3实际工序能力指数CPK34
2.2.4工业生产对工序能力指数的要求38
2.3工序能力指数的常规计算方法39
2.3.1CP和CPK的常规计算方法39
2.3.2计算实例41
2.46σ设计41
2.4.1从工序能力指数到6σ设计41
2.4.2Pσ设计水平与DPMO42
2.4.3Pσ设计水平与DPMO值换算45
2.4.46σ设计与工序能力分析的区别49
本章主要结论50
习题与思考题50
第3章 电子元器件工艺能力评价54
3.1电子元器件工艺能力评价的特殊问题54
3.1.1工艺能力评价常规计算方法适用的前提条件54
3.1.2电子元器件工艺能力评价中需要考虑的特殊问题54
3.2电子元器件CPK的计算57
3.2.1工序能力指数评价模型和算法57
3.2.2非正态分布工艺参数CPK的计算58
本章主要结论63
习题与思考题64
第4章 SPC与常规控制图65
4.1SPC技术概述65
4.1.1基本概念65
4.1.2SPC的发展和应用67
4.1.3SPC技术的内容68
4.2常规控制图68
4.2.1什么是控制图68
4.2.2常规控制图的类型69
4.2.3预备知识——控制图工作依据的数学原理71
4.2.4控制图技术的核心问题之一：控制限的确定71
4.2.5控制图技术的核心问题之二：工艺过程受控状态的判断规则72
4.2.6应用控制图技术的基本步骤74
4.3常规计量值控制图74
4.3.1“均值-标准偏差”控制图75
4.3.2“均值-极差”控制图80
4.3.3x-s控制图和x-R控制图的选用82
4.3.4“单值-移动极差”控制图83
4.4常规计件值控制图——p图和pn图86
4.4.1p图和pn图的数学基础——二项分布87
4.4.2不合格品数控制图（pn图）87
4.4.3不合格品率控制图（p图）90
4.4.4通用不合格品率控制图（pT图）95
4.5常规计点值控制图——c图和u图97
4.5.1c图和u图的数学基础——泊松分布98
4.5.2缺陷数控制图（c图）98
4.5.3单位缺陷数控制图（u图）100
4.5.4通用单位缺陷数控制图（uT图）103
4.6常规控制图的比较分析104
4.6.1关于常规控制图的几点说明105
4.6.2不同类型常规控制图的选用106
4.6.3常规控制图的适用条件108
本章主要结论109
习题与思考题110
第5章 电子元器件的特殊SPC模块113
5.1嵌套控制图113
5.1.1工艺参数的嵌套性113
5.1.2嵌套SPC模型114
5.1.3嵌套控制图应用实例116
5.2回归控制图118
5.2.1工艺回归模型119
5.2.2回归控制图121
5.2.3应用实例——硼扩散再分布模型122
5.3多变量控制图123
5.3.1多变量控制问题123
5.3.2多变量控制图上测试样本统计量的确定128
5.3.3多变量控制图分析实例129
5.3.4SPC综合模型控制图130
5.4缺陷成团控制图模块132
5.4.1缺陷成团模型132
5.4.2缺陷成团控制图134
5.4.3缺陷成团控制图模块运行实例135
本章主要结论137
习题与思考题137
第6章 CPK和SPC实践138
6.1CPK评价实践与注意事项138
6.1.1CPK评价流程和注意事项138
6.1.2CPK评价结果分析141
6.2SPC实践与注意事项143
6.2.1SPC评价流程和注意事项143
6.2.2SPC评价结果分析148
6.3测试仪器精密度的评价153
6.3.1“准确度”和“精密度”的概念153
6.3.2仪器“精密度”的评价153
6.3.3仪器“可重复性”和“可再现性”的评价156
习题与思考题158
第7章 出厂产品不合格水平（PPM）评价160
7.1电子元器件产品出厂平均质量水平的评定160
7.1.1PPM分类160
7.1.2PPM计算方法之一161
7.1.3PPM计算方法之二162
7.2PPM在原材料和工艺质量表征方面的应用164
7.2.1用PPM表征原材料质量水平164
7.2.2用PPM表征工艺水平164
本章主要结论165
习题与思考题165
附录A美国标准“EIA—557—A统计过程控制体系”（摘要）167
附录B常用数学符号简表181
附录C质量控制与管理中常用数学符号183
参考资料185