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第一章 自动测试系统概论1

1.1 什么是自动测试系统1

1.2 自动测试系统的组成1

1.3 自动测试系统的发展概况2

1.3.1 第一代自动测试系统2

1.3.2 第二代自动测试系统3

1.3.3 VXI总线自动测试系统5

1.4 VXI总线自动测试系统的特点6

1.5 自动测试系统的发展方向6

第二章 VXI总线规范9

2.1 引言9

2.2 VXI总线系统结构10

2.2.1 VXI总线系统的主计算机及其接口12

2.2.2 VXI总线主机箱及模块（Module）14

2.2.3 器件（Device）15

2.2.4 资源管理器和0槽服务17

2.3 VXI总线的总线构成及功能18

2.3.1 VME总线的特点及结构24

2.3.2 VXI增加的总线31

2.4 VXI总线系统的通信协议38

2.4.1 器件寄存器的基地址及地址分配39

2.4.2 配置寄存器40

2.4.3 通信寄存器42

2.4.4 数据的传送协议45

2.4.5 其它协议49

2.5 VXI总线器件的操作49

2.5.1 VXI总线器件的初始化与自检过程49

2.5.2 优先级中断53

第三章 VXI总线接口电路及模块设计58

3.1 引言58

3.2 VXI总线接口设计方案58

3.2.1 消息基器件的VXI总线接口方案58

3.2.2 带有智能芯片的寄存器基器件的VXI总线接口方案62

3.2.3 无智能芯片的寄存器基器件的VXI总线接口方案62

3.3 VXI总线任意波形发生器模块硬件设计64

3.3.1 技术指标及合成波形的工作原理64

3.3.2 接口设计方案65

3.3.3 接口电路的实现66

3.3.4 模块的功能电路设计70

3.4 VXI总线高性能数据发生器模块的硬件设计76

3.4.1 技术指标及基本工作原理76

3.4.2 VXI总线接口方案77

3.4.3 接口控制方式的选择77

3.4.4 VXI总线接口电路的实现78

3.5 零槽控制器模块硬件设计84

3.5.1 引言84

3.5.2 模块的基本结构84

3.5.3 模块的功能与技术指标84

3.5.4 模块的硬件电路设计84

第四章 VXI总线即插即用规范92

4.1 VXI总线即插即用规范的提出92

4.2 VXI总线即插即用系统及其特点93

4.3 系统框架94

4.3.1 系统框架的概念94

4.3.2 系统框架的定义与描述95

4.4 仪器驱动程序98

4.4.1 VPP仪器驱动程序的由来98

4.4.2 VPP仪器驱动程序的特点99

4.4.3 仪器驱动程序的结构模型100

4.4.4 仪器驱动程序函数简介102

4.4.5 仪器驱动程序功能面板104

4.5 虚拟仪器软件结构VISA106

4.5.1 VISA简介106

4.5.2 VISA的结构107

4.5.3 VISA的特点108

4.5.4 VISA的现状109

4.5.5 VISA的应用举例109

4.5.6 VISA资源描述112

4.5.7 VISA中事件的分析与处理116

4.5.8 VISA的资源定义118

4.5.9 软面板规范139

4.5.10 VPP知识库文件及其它VPP规范141

第五章 自动测试系统软件设计144

5.1 软件设计的要求及关键技术144

5.1.1 自动测试系统软件设计的要求144

5.1.2 软件设计的关键技术144

5.2 软件开发环境145

5.2.1 Lab Windows/CVI简介145

5.2.2 Lab View与HP VEE简介146

5.3 软面板的设计147

5.3.1 VXI软面板的设计原则147

5.3.2 软面板设计举例149

5.4 VISA在编程中的应用152

5.4.1 VISA应用例1152

5.4.2 VISA应用举例154

5.4.3 VISA应用举例155

5.4.4 VISA应用举例155

5.5 仪器驱动程序的设计158

5.5.1 仪器驱动程序的设计步骤158

5.5.2 仪器驱动程序设计举例161

5.6 中断编程163

5.6.1 VXI系统中的事件及处理方法163

5.6.2 回调函数法处理VXI事件用到的函数164

5.6.3 用回调函数法处理VXI中断例程165

5.7 ODBC技术166

5.8 自动测试软件框架166

5.8.1 自动测试软件框架提出的原因和核心内容166

5.8.2 自动测试软件框架结构167

5.8.3 自动测试软件框架的使用方法168

5.8.4 自动测试流程库的结构168

5.8.5 自动测试软件框架的主调流程170

5.8.6 自动测试软件框架的扩充升级170

5.9 IVI规范171

5.9.1 引言171

5.9.2 IVI技术的发展背景及特点171

5.9.3 应用IVI技术构建自动测试系统174

第六章 VXI总线自动测试系统的集成177

6.1 引言177

6.2 需求分析178

6.3 确定系统体系结构178

6.3.1 外置计算机体系结构178

6.3.2 内嵌计算机体系结构181

6.3.3 几种体系结构的对比181

6.4 测试设备选择182

6.4.1 VXI总线仪器模块的选择182

6.4.2 VXI主机箱的选择184

6.4.3 确定被测对象接口184

6.4.4 配置系统184

6.5 软件开发环境的选择185

6.6 软件设计与开发185

6.6.1 VXI总线测试系统的软件构成185

6.6.2 软件开发186

6.7 文件编制187

6.8 模块化软件结构设计方法187

6.9 PXI模块仪器系统简介187

6.9.1 引言187

6.9.2 PXI总线的提出188

6.9.3 PXI系统与VXI系统的比较189

6.9.4 PXI的基本性能及特点189

6.9.5 PXI模块仪器系统的构成191

6.9.6 PXI模块仪器系统的应用192

第七章 IEEE 488.1标准接口系统194

7.1 引言194

7.2 标准接口系统的性能和母线结构195

7.2.1 基本概念195

7.2.2 标准接口系统的基本性能197

7.2.3 母线结构及信号线199

7.2.4 母线电缆和接插头201

7.2.5 寻址202

7.3 接口功能与器件接口功能设置205

7.3.1 接口功能205

7.3.2 器件内部接口功能设置208

7.4 信息编码及传递209

7.4.1 消息分类209

7.4.2 消息编码210

7.4.3 消息的传递216

7.5 接口功能状态图217

7.5.1 状态图的表示方法217

7.5.2 DT接口功能状态图219

7.5.3 L（LE）接口功能状态图219

7.5.4 AH口功能状态图222

7.5.5 T（TE）接口功能状态图224

7.5.6 SH接口功能状态图227

7.5.7 C接口功能状态图229

7.6 接口系统的运行231

7.6.1 三线连锁挂钩过程231

7.6.2 数传内容与传递方式232

7.6.3 常用操作序列232

7.7 初级接口功能的实现239

7.7.1 常用的GPIB接口芯片239

7.7.2 μpD7210芯片介绍239

7.7.3 计算机的GPIB接口242

7.8 GPIB软件设计举例243

7.8.1 采用BASIC语言的编程举例243

7.8.2 采用ISA库函数的编程举例244

7.9 IEEE 488.2标准与SCPI简介246

7.9.1 IEEE 488.2标准246

7.9.2 可程控仪器标准命令——SCPI250

附录A SR、RL、PP、DC接口功能状态图253

附录B IEEE488.2需要的IEEE488.1功能子集255

附录C ASCII码表（7比特）256

参考文献257