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C-MOS电路之故障原因与对策
  • 王政友编著 著
  • 出版社: 无线电界杂志社
  • ISBN:
  • 出版时间:1982
  • 标注页数:142页
  • 文件大小:2MB
  • 文件页数:148页
  • 主题词:

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图书目录

第一章 C-MOS IC1

1 C-MOS之构造与动作原理1

2 C-MOS IC之特长5

第二章 C-MOS IC之特性11

1 C-MOS IC之基本特性11

2 规格与有关数据16

3 标准C-MOS IC之规格19

1 由静电破坏所引起之故障23

第三章 C-MOS电路之故障——原因与对策23

2 由Latch up现象所引起之障害30

3 由於Slow-Clock所引起之异常与防止对策40

4 由杂音所引起之异常51

5 由电源部分所引起之异常与防止对策64

6 由Hazard所引起之异常75

7 由温度所引起之异常89

8 其他原因所引起之异常97

9 由Interface之不良所引起之异常109

第四章 C-MOS之信赖性与fail-Safe之问题121

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