图书介绍
C-MOS电路之故障原因与对策PDF|Epub|txt|kindle电子书版本网盘下载
![C-MOS电路之故障原因与对策](https://www.shukui.net/cover/77/34331243.jpg)
- 王政友编著 著
- 出版社: 无线电界杂志社
- ISBN:
- 出版时间:1982
- 标注页数:142页
- 文件大小:2MB
- 文件页数:148页
- 主题词:
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图书目录
第一章 C-MOS IC1
1 C-MOS之构造与动作原理1
2 C-MOS IC之特长5
第二章 C-MOS IC之特性11
1 C-MOS IC之基本特性11
2 规格与有关数据16
3 标准C-MOS IC之规格19
1 由静电破坏所引起之故障23
第三章 C-MOS电路之故障——原因与对策23
2 由Latch up现象所引起之障害30
3 由於Slow-Clock所引起之异常与防止对策40
4 由杂音所引起之异常51
5 由电源部分所引起之异常与防止对策64
6 由Hazard所引起之异常75
7 由温度所引起之异常89
8 其他原因所引起之异常97
9 由Interface之不良所引起之异常109
第四章 C-MOS之信赖性与fail-Safe之问题121