图书介绍
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- 何国瑞，陈浩华编著 著
- 出版社： 华飞科技出版印刷公司
- ISBN：
- 出版时间：1987
- 标注页数：298页
- 文件大小：8MB
- 文件页数：305页
- 主题词：
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图书目录
目录1
电子元器件部分1
第1章 可靠性试验技术基础1
1.1 电子产品的可靠性1
1.2 常用的可靠性参数和寿命分布4
1.3 可靠性试验的目的和分类13
1.4 寿命试验技术的发展20
1.5 寿命与应力的关系25
1.6 劣化图在可靠性试验中的应用38
第2章 寿命试验和加速寿命试验44
2.1 指数分布寿命试验44
2.2 加速寿命试验47
2.3 可靠性试验中的一些技术问题57
2.4 国外电子元器件可靠性试验设备和测试系统的发展趋势62
3.1 抽样检验的目的和意义66
第3章 失效率鉴定试验66
3.2 抽样原理及其特性曲线（OC曲线）67
3.3 抽样方案的制定69
3.4 鉴定试验的抽样方案70
3.5 鉴定试验的一般要求72
3.6 鉴定试验的应用实例74
第4章 可靠性筛选试验79
4.1 可靠性筛选试验的意义、特点和分类79
4.2 常用的可靠性筛选方法82
4.3 可靠性筛选项目、应力和时间的确定114
4.4 可靠性筛选的物理方法133
4.5 可靠性筛选方案的设计139
4.6 可靠性筛选方案的评价142
第5章 可靠性试验数据分析145
5.1 可靠性试验数据分析方法145
5.2 相关与回归146
5.3 最小二乘法150
5.4 利用概率纸进行可靠性试验数据分析154
5.5 指数分布平均寿命的点估计和区间估计165
5.6 随机劣化失效的数据分析169
5.7 失效模式分离及其统计方法173
5.8 强制劣化试验的奥米伽（Omega）数据178
分析法178
5.9 根据比例方式采用不完整的寿命试验数据法181
电子设备部分185
第6章 概述185
6.1 电子设备可靠性试验的特点185
6.2 电子设备可靠性试验的分类185
第7章 可靠性试验计划187
7.1 可靠性试验在可靠性计划中的地位与作用187
7.2 制定可靠性试验计划应考虑的因素190
7.3 试验计划的主要内容及其有关问题190
7.4 试验评审215
8.1 选择试验条件的原则217
第8章 试验条件217
8.2 应力218
8.3 工作条件及预防维护220
8.4 周期设计222
8.5 现场试验条件及要求226
第9章 试验的实施228
9.1 试验流程图228
9.2 受试设备的检测228
9.3 失效的分析和分类230
9.4 失效的处理235
9.5 数据处理237
9.6 试验记录与报告要求276
第10章 可靠性增长试验279
10.1 概述279
10.2 数学模型及其应用步骤279
10.3 时间与样品数量289
10.4 老练和MTBF保证试验291