图书介绍
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- 王轶农主编；陈騑騢副主编；谭家隆参编；王玉魁主审 著
- 出版社： 大连：大连理工大学出版社
- ISBN：9787561166949
- 出版时间：2012
- 标注页数：333页
- 文件大小：160MB
- 文件页数：343页
- 主题词：工程材料－分析方法
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图书目录
第1篇 材料X射线衍射分析3
第1章 X射线物理学基础3
1.1 X射线与电磁波谱3
1.2 X射线源4
1.3 X射线谱5
1.3.1 连续X射线谱5
1.3.2 特征X射线谱7
1.4 X射线与物质的相互作用9
1.4.1 X射线的衰减9
1.4.2 X射线的真吸收11
1.4.3 吸收限的应用12
1.4.4 X射线的散射13
习题14
第2章 X射线衍射方向15
2.1 晶体学基础15
2.1.1 布拉维点阵15
2.1.2 晶体学指数16
2.1.3 晶面间距19
2.1.4 晶面夹角20
2.2 倒易点阵21
2.2.1 倒易点阵中基本矢量的定义21
2.2.2 倒易阵胞的基本性质22
2.2.3 倒易点阵与倒易矢量22
2.3 布拉格定律24
2.3.1 布拉格方程的导出25
2.3.2 布拉格方程的讨论26
2.4 衍射矢量方程及厄瓦尔德图解28
2.4.1 衍射矢量方程28
2.4.2 厄瓦尔德图解29
2.5 X射线衍射方法29
习题30
第3章 X射线衍射强度32
3.1 电子对X射线的散射32
3.2 原子对X射线的散射33
3.3 单胞对X射线的散射与结构因数34
3.3.1 结构因数公式的推导34
3.3.2 几种常见点阵的结构因数计算35
3.4 多晶体X射线衍射束的强度41
3.4.1 衍射的积分强度41
3.4.2 衍射积分强度的表达式41
3.5 多晶体X射线衍射方法44
3.5.1 多晶体衍射图像的形成44
3.5.2 德拜-谢乐法45
3.5.3 X射线衍射仪51
习题58
第4章 物相分析及点阵参数精确测定59
4.1 物相的定性分析59
4.1.1 定性分析基本原理59
4.1.2 粉末衍射卡片（PDF）60
4.1.3 粉末衍射卡片索引61
4.1.4 定性分析的基本过程62
4.2 物相定量分析原理与方法64
4.2.1 单线条法65
4.2.2 内标法65
4.2.3 K值法及参比强度法66
4.2.4 直接对比法——残余奥氏体测定67
4.3 点阵参数的精确测定68
4.3.1 误差的来源68
4.3.2 图解外推法69
4.3.3 最小二乘法70
4.3.4 标准样校正法71
4.4 非晶态物质的X射线衍射分析72
4.4.1 非晶态物质结构的主要特征72
4.4.2 非晶态结构的径向分布函数72
4.4.3 非晶态物质的晶化74
4.5 晶粒尺寸的测定76
4.5.1 测试原理76
4.5.2 仪器宽化的校正76
4.5.3 测试方法77
4.6 薄膜厚度的测定77
习题77
第5章 宏观残余应力的测定79
5.1 物体内应力的产生与分类79
5.2 X射线宏观应力测定的基本原理80
5.3 宏观应力测定方法83
5.3.1 同倾法84
5.3.2 侧倾法86
5.4 X射线宏观应力测定中的一些问题88
5.4.1 定峰方法88
5.4.2 应力常数K的确定90
5.4.3 影响宏观应力测量精度的因素92
习题93
第6章 多晶体织构的测定94
6.1 标准投影图94
6.1.1 极射赤面投影法95
6.1.2 乌氏网95
6.1.3 单晶体的标准投影图98
6.2 织构的种类及表征方法100
6.2.1 织构的种类100
6.2.2 织构表征方法101
6.3 丝织构的测定方法107
6.4 极图的测定方法109
6.5 反极图的测定方法111
习题113
第2篇 材料电子显微分析117
第7章 电子光学基础117
7.1 电子波与电磁透镜117
7.1.1 光学显微镜的分辨率极限117
7.1.2 电子波的波长特征117
7.1.3 电磁透镜118
7.2 电磁透镜的像差与分辨率120
7.2.1 像差120
7.2.2 分辨率121
7.3 电磁透镜的景深和焦长123
7.3.1 景深123
7.3.2 焦长123
习题124
第8章 透射电子显微镜125
8.1 透射电子显微镜的结构与成像原理125
8.1.1 照明系统125
8.1.2 成像系统127
8.1.3 观察记录系统129
8.2 主要部件的结构和工作原理130
8.2.1 样品平移和倾斜装置（样品台）130
8.2.2 电子束倾斜与平移装置131
8.2.3 消像散器131
8.2.4 光阑132
8.3 透射电子显微镜分辨率和放大倍数的测定133
习题134
第9章 电子衍射135
9.1 概述135
9.2 电子衍射原理136
9.2.1 布拉格定律136
9.2.2 倒易点阵与厄瓦尔德球图解法136
9.2.3 晶带定理139
9.2.4 零层倒易截面139
9.2.5 结构因子——倒易阵点的权重140
9.2.6 偏离矢量与倒易阵点扩展142
9.2.7 电子衍射基本公式144
9.3 电子显微镜中的电子衍射146
9.3.1 有效相机常数146
9.3.2 选区电子衍射146
9.3.3 磁转角147
9.4 单晶电子衍射花样标定148
9.4.1 已知晶体结构衍射花样的标定148
9.4.2 未知晶体结构衍射花样的标定150
9.4.3 标准花样对照法150
9.5 复杂电子衍射花样150
9.5.1 超点阵斑点150
9.5.2 孪晶斑点151
习题153
第10章 晶体薄膜衍衬成像分析154
10.1 概述154
10.2 薄膜样品的制备方法154
10.2.1 基本要求154
10.2.2 工艺过程155
10.3 衍射衬度成像原理157
10.4 消光距离159
10.5 衍衬运动学161
10.5.1 基本假设161
10.5.2 理想晶体的衍射强度162
10.5.3 理想晶体衍衬运动学基本方程的应用164
10.5.4 非理想晶体的衍射强度167
10.6 晶体缺陷分析168
10.6.1 层错168
10.6.2 位错170
10.6.3 第二相粒子174
习题177
第11章 扫描电子显微镜179
11.1 电子束与固体样品作用时产生的信号179
11.2 扫描电子显微镜的构造和工作原理181
11.2.1 电子光学系统（镜筒）182
11.2.2 信号收集处理、图像显示记录系统183
11.2.3 真空系统183
11.3 扫描电子显微镜的主要性能184
11.3.1 分辨率184
11.3.2 放大倍数185
11.4 表面形貌衬度原理及其应用186
11.4.1 二次电子成像原理186
11.4.2 二次电子形貌衬度的应用187
11.5 原子序数衬度原理及其应用190
11.5.1 背散射电子衬度原理及其应用190
11.5.2 吸收电子衬度原理192
11.6 背散射电子衍射分析及其应用192
11.6.1 背散射电子衍射工作原理192
11.6.2 背散射电子衍射装置的基本组成196
11.6.3 背散射电子衍射取向技术的应用196
习题199
第12章 电子探针显微镜200
12.1 电子探针仪的结构与工作原理200
12.2 波长分散谱仪201
12.2.1 工作原理201
12.2.2 分析方法203
12.3 能量分散谱仪204
12.3.1 工作原理204
12.3.2 能谱仪成分分析的特点205
12.4 电子探针仪的分析方法206
12.4.1 定性分析206
12.4.2 定量分析简介208
习题208
第3篇 材料物理性能分析211
第13章 材料的声学性能211
13.1 声波的基本性质和物理量211
13.1.1 机械振动与弹性波211
13.1.2 小振幅声波在理想介质中的传播规律213
13.1.3 弹性波与介质的相互作用规律218
13.1.4 弹性波在介质中的非线性行为228
13.1.5 功率超声与液体介质的超声空化233
13.2 材料声学性能的物理本质和影响因素239
13.2.1 声速及其影响因素239
13.2.2 声衰减系数及其影响因素241
13.2.3 声阻抗率及其影响因素245
13.2.4 声波的非线性参量及其影响因素245
13.2.5 液体介质的超声空化阈及其影响因素247
13.3 材料声学性能的测试方法及其应用249
13.3.1 材料声学性能的测试方法介绍249
13.3.2 声学性能在材料研究中的应用254
习题267
第14章 材料的热学性能268
14.1 热分析268
14.1.1 热焓和比热容的测量及热分析法268
14.1.2 热分析应用272
14.2 热膨胀分析286
14.2.1 热膨胀的测量及线膨胀系数的测定286
14.2.2 热膨胀分析的应用291
14.3 热传导308
14.3.1 材料的导热性及热导率、热扩散率和热阻308
14.3.2 热导率的测量及应用309
14.4 热电性311
14.4.1 金属的热电效应311
14.4.2 热电势的测量313
14.4.3 热电性分析方法的应用315
14.4.4 热电性分析在测温上的应用318
习题319
附录320
附录1 质量吸收系数μ1/ρ320
附录2 原子散射因数f321
附录3 各种点阵的结构因数F2HKL322
附录4 粉末法的多重性因数Phkl322
附录5 角因数1+cos2 2θ/sin2θcosθ323
附录6 德拜函数φ(x)+1/4/x325
附录7 某些物质的特征温度？325
附录8 1/2(cos2θ/sinθ+cos2θ/θ)326
附录9 常用金属材料应力测定常数327
附录10 常见晶体标准电子衍射花样328
参考文献332