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上篇 集成电路测试原理3

第1章 概述3

1.1 测试的意义3

1.2 测试的分类6

1.3 测试成本与产品质量8

参考文献11

第2章 逻辑模拟与故障模拟12

2.1 电路模型及简单的结构分析12

2.2 信号状态模型14

2.3 定时模型15

2.4 故障模型及故障精简15

2.5 故障效应的传播17

2.6 逻辑模拟算法19

2.7 故障模拟算法23

2.8 时序电路的逻辑模拟和故障模拟35

参考文献38

第3章 可测性度量39

3.1 可测性度量的基本概念39

3.2 可测性的度量40

参考文献50

第4章 测试生成51

4.1 测试生成方法分类51

4.2 测试生成算法中的一些基本概念和技术52

4.3 单路径敏化法55

4.4 D-算法56

4.5 9值算法61

4.6 PODEM算法64

4.7 FAN算法67

4.8 布尔差分法70

4.9 布尔满足法73

4.10 面向电路的测试生成方法79

4.11 组合ATPG算法研究进展81

4.12 时序电路测试生成83

4.13 高层设计的测试生成89

4.14 测试生成系统91

参考文献92

第5章 可测性设计方法和技术94

5.1 可测性设计的基本概念94

5.2 专门的可测性设计方法99

5.3 基于扫描的可测性设计技术104

5.4 全速测试和全速扫描测试技术112

5.5 特征分析测试方法简介及内建自测试114

5.6 边界扫描设计技术121

5.7 可测性设计规则综述131

参考文献132

第6章 设计验证技术133

6.1 设计验证技术基本概念133

6.2 设计的模拟验证135

6.3 设计的形式验证和断言验证144

6.4 设计验证辅助功能测试向量的制成150

6.5 现代数字集成电路芯片设计验证的语言155

参考文献156

第7章 测试数据压缩技术157

7.1 测试数据压缩的缘由、特点和方法概述157

7.2 Huffman编码160

7.3 游程编码的方法161

7.4 Golomb码的数学基础和数据压缩162

7.5 快速编码的优势和特点164

7.6 二维压缩编码方法的基本实践168

7.7 数据压缩的硬件实施方法和措施170

参考文献172

第8章 测试开发系统174

8.1 测试语言174

8.2 测试程序179

8.3 测试开发环境182

8.4 测试转换系统183

8.5 测试设备脱机开发环境191

参考文献197

第9章 混合信号集成电路测试198

9.1 概况198

9.2 采样理论199

9.3 基于DSP的测试204

9.4 基于模型的测试206

9.5 DAC测试210

9.6 ADC测试214

9.7 混合信号DFT和BIST220

参考文献223

第10章 IDDQ测试225

10.1 IDDQ基本原理225

10.2 IDDQ测试生成226

10.3 IDDQ可测性设计231

10.4 IDDQ监控器设计236

10.5 △IDDQ测试248

10.6 深亚微米IDDQ测试249

10.7 未来方向251

参考文献252

第11章 SOC测试253

11.1 概况253

11.2 SOC测试困难253

11.3 测试访问机制254

11.4 测试外壳255

11.5 内核测试259

11.6 SOC系统测试262

11.7 测试标准266

11.8 内核测试语言267

11.9 未来的挑战269

参考文献270

第12章 集成电路测试标准272

12.1 集成电路相关标准机构272

12.2 国际集成电路测试标准介绍275

下篇 集成电路测试设备282

第13章 集成电路测试系统概述282

13.1 集成电路测试系统发展概述282

13.2 集成电路测试系统分类284

13.3 集成电路测试系统专用集成电路284

13.4 分布式集成电路测试系统290

参考文献294

第14章 集成电路测试验证系统295

14.1 集成电路测试验证要求和测试验证系统发展295

14.2 第1代测试验证手段和系统296

14.3 第2代测试验证系统的构成298

14.4 第3代测试验证系统的特点301

14.5 现代测试验证系统的要求和特点302

参考文献307

第15章 数字集成电路测试系统308

15.1 数字集成电路测试系统原理308

15.2 数字SSI/MSI测试系统317

15.3 数字LSI/VLSI测试系统326

参考文献351

第16章 RAM测试技术和测试系统352

16.1 RAM的基本组成及结构352

16.2 RAM测试354

16.3 RAM测试系统363

参考文献371

第17章 模拟集成电路测试系统372

17.1 模拟电路的测试需求372

17.2 模拟电路测试系统的系统结构380

17.3 模拟测试系统仪器构成原理388

17.4 现代模拟集成电路测试系统418

参考文献422

第18章 数模混合信号集成电路测试系统423

18.1 混合信号电路对测试的需求423

18.2 混合信号电路测试系统的体系结构436

18.3 混合信号电路测试系统的同步439

18.4 混合信号测试的特殊仪器444

18.5 混合信号电路测试系统452

第19章 基于标准总线的集成电路测试系统461

19.1 基于标准总线的集成电路测试系统发展461

19.2 虚拟仪器464

19.3 自动测试系统软件体系结构466

19.4 基于标准总线的通用集成电路测试系统举例467

参考文献470

第20章 基于DFT测试仪471

20.1 传统ATE471

20.2 DFT测试仪472

20.3 测试方法473

20.4 DFT测试应用474

20.5 DFT测试仪与传统ATE区别475

20.6 一种边界扫描DFT测试系统——JTAG478

参考文献483

第21章 SOC测试系统484

21.1 SOC测试特性484

21.2 SOC测试系统特性485

21.3 SOC测试系统489

参考文献496

第22章 集成电路测试系统的计量497

22.1 量值溯源基础497

22.2 集成电路测试系统校准与参数溯源的基础原理502

22.3 集成电路测试系统校准与参数溯源方法介绍503

22.4 集成电路测试系统国家校准规程514

参考文献516

第23章 集成电路测试辅助设备517

23.1 自动分选机517

23.2 探针测试台520

参考文献525

索引527