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第一章　概述1

1.1 基本概念1

1.1.1 维修1

1.1.2 测试2

1.1.3 故障诊断2

1.1.4 检修3

1.2 现代电子装备特点及其维修3

1.2.1 现代电子装备的特点3

1.2.2 现代电子装备的维修4

1.3 电子装备维修设备的现状及发展11

思考题16

第二章　电路测试技术基础17

2.1 电压测试技术17

2.1.1 电压表测试法17

2.1.2 示波器测试法18

2.2 频率测试技术20

2.2.1 示波器测试法20

2.2.2 电子计数器测试法22

2.3.1 双线（双踪）示波法23

2.3 相位测试技术23

2.3.2 单线示波法24

2.4 功率测试技术26

2.4.1 传送功率测量法27

2.4.2 接收功率测量法29

2.5 噪声测试技术29

2.5.1 噪声的测量方法30

2.5.2 噪声测量技术的应用31

2.6 分贝测试技术31

2.6.1 分贝的概念与定义32

2.6.2 分贝的测量方法33

2.7 频率特性测试技术36

2.7.1 幅频特性测试36

2.7.2 相频特性测试37

2.8 数据域测试技术38

2.8.1 数字特征分析测试技术38

2.8.2 数据域的逻辑分析仪测试方法41

2.8.3 数据域的仿真测试方法48

思考题59

3.1 测量误差和计量的基本术语60

第三章　测量误差处理与电子计量60

3.2 测量误差与测量结果处理61

3.2.1 测量误差及其表示61

3.2.2 测量误差的估计和处理67

3.2.3 测量误差的合成和分配72

3.2.4 测量结果的数据处理77

3.3 电子计量80

3.3.1 计量概述80

3.3.2 电子计量概述84

3.4 典型电子测量仪器的计量与检定85

3.4.1 电压表计量85

3.4.2 示波器检定98

思考题108

第四章　电路与设备检修技术基础110

4.1 电路与设备检修方法110

4.1.1 直觉检查法110

4.1.2 信号寻迹法111

4.1.3 信号注入法113

4.1.5 波形观察法115

4.1.4 同类比对法115

4.1.6 在线（在路）测试法116

4.1.7 交流短路法120

4.1.8 分隔测试法120

4.1.9 更新替换法121

4.1.10 内部调整法122

4.2 电路与设备检修步骤122

4.2.1 了解情况，发现故障线索123

4.2.2 初步检查，确定故障症状124

4.2.3 熟悉系统，分析故障原因125

4.2.4 缩小区域，找出故障126

4.2.5 排除故障，检验修复设备131

4.3 常见元器件的故障及检查132

4.3.1 电阻器类132

4.3.2 电容器类134

4.3.3 电感和变压器类135

4.3.4 晶体管类136

4.3.5 集成电路类138

4.3.6 印制电路板139

4.3.7 电子管类140

4.3.8 接触元件、保险丝等141

思考题142

第五章　装备的测试性与装备的测试检修144

5.1 概述144

5.1.1 测试、测试性与测试性的测度144

5.1.2 测试性要求145

5.2 雷达系统的测试性设计147

5.2.1 测试方案确定147

5.2.2 测试性分配与预计148

5.2.3 固有测试性设计148

5.2.4 测试点的选择150

5.3 数字电路测试性设计151

5.3.1 标准单元的测试性分析151

5.3.2 测试性的改善设计156

5.3.3 测试性设计158

5.3.4 内测试技术162

5.3.5 边界扫描技术167

思考题173

6.1 自动测试概述174

6.1.1 自动测试系统的基本概念174

第六章　自动测试系统174

6.1.2 自动测试系统的组成与工作原理179

6.1.3 自动测试系统的主要指标189

6.2 常用标准接口总线192

6.2.1 IEEE-488接口总线194

6.2.2 VXI接口总线199

6.2.3 PXI接口总线207

6.2.4 自动测试系统中使用的其他总线209

6.3 电路单元自动测试设备中的程控仪器209

6.3.1 程控测量仪器210

6.3.2 程控信号源216

6.3.3 开关矩阵222

6.3.4 程控电源与电子负载227

6.3.5 虚拟仪器231

6.4 自动测试系统的软件239

6.4.1 软件结构与软件系统设计239

6.4.2 系统控制程序和软件设计规范241

6.4.3 开发平台软件250

思考题255

7.1 机内自检的概念与技术指标256

7.1.1 机内自检技术的提出256

第七章　机内自检设备256

7.1.2 定义与作用257

7.1.3 BITE的主要技术指标257

7.2 常见的机内自检技术264

7.2.1 余度BIT技术264

7.2.2 环绕BIT技术268

7.2.3 特征分析BIT268

7.2.4 机内逻辑块观察技术270

7.2.5 参数测试BIT271

7.2.6 编码检错技术275

7.2.7 智能BIT技术278

7.3 常见的机内自检结构形式282

7.3.1 集中监控式282

7.3.2 分布与集中相结合方式284

7.3.3 嵌入式（分布式）285

7.3.4 模块化组合式286

思考题288

第八章　维修技术在电路单元检修中的应用290

8.1 直流分压电路测试与检修290

8.1.1 直流串联电路测试检修290

8.1.2 直流并联电路测试检修291

8.1.3 直流串并联电路测试检修292

8.2 低频放大电路测试与检修293

8.2.1 晶体管低频放大电路293

8.2.2 低频集成放大电路300

8.3 直流电源电路测试与检修305

8.3.1 电源电路测试技术305

8.3.2 电源电路检修技术311

8.4 脉冲电路测试与检修314

8.4.1 多谐振荡器电路315

8.4.2 锯齿波产生电路316

8.4.3 单结晶体管脉冲产生电路319

8.4.4 断续正弦波形成电路319

8.5 基本数字电路单元的测试检修321

8.5.1 基本数字电路的故障模型321

8.5.2 基本数字电路的检测仪器323

8.5.3 典型基本数字电路的检修实例325

8.6 带微处理器电路单元的测试与检修332

8.6.1 微处理器系统的测试检修思路332

8.6.2 微处理器电路单元常见故障现象及检修333

参考文献338