图书介绍

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X射线荧光光谱分析基础
  • 梁钰编著 著
  • 出版社: 北京:科学出版社
  • ISBN:9787030198655
  • 出版时间:2007
  • 标注页数:269页
  • 文件大小:14MB
  • 文件页数:278页
  • 主题词:X射线荧光光谱法-光谱分析

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图书目录

第一章 X射线荧光光谱原理1

1.1 概述1

1.2 X射线和X射线光谱3

1.2.1 X射线的特征3

1.2.2 X射线光谱5

1.2.3 X射线和物质的作用9

1.3 特征荧光X射线10

1.4 X射线的吸收和散射16

1.4.1 X射线的吸收17

1.4.2 X射线的散射19

1.5 X射线的分光21

1.6 X射线荧光光谱分析的特点和应用22

1.6.1 特点22

1.6.2 应用23

第二章 波长色散X射线荧光光谱仪25

2.1 仪器的组成26

2.2 荧光X射线的激发26

2.2.1 X射线高压发生器27

2.2.2 X射线管27

2.2.3 热交换器30

2.2.4 一次X射线滤光片31

2.2.5 X射线光路32

2.3 荧光X射线的分光33

2.3.1 限制光栏33

2.3.2 衰减器33

2.3.3 准直器34

2.3.4 分光晶体35

2.4 荧光X射线的探测和脉冲高度分析42

2.4.1 正比计数器43

2.4.2 闪烁计数器45

2.4.3 脉冲高度分布和脉冲高度分析器46

2.4.4 2θ联动机构49

2.4.5 流气型正比计数器芯线污染和清洁50

2.4.6 气体密度稳定器51

2.5 测角仪51

2.6 固定道背景自动扣除装置53

第三章 定性分析和半定量分析55

3.1 定性分析55

3.1.1 定性分析方法的建立56

3.1.2 定性分析谱图解析57

3.1.3 谱峰分解62

3.1.4 背景计算和扣除63

3.2 半定量分析63

3.2.1 半定量分析的一般情况63

3.2.2 光电子基本参数法66

3.2.3 散射线基本参数法66

3.3 元素分布分析69

3.3.1 r-θ样品台70

3.3.2 元素分布分析70

3.3.3 微小区域分布分析70

第四章 定量分析72

4.1 概述72

4.2 定量分析中的基体效应74

4.2.1 吸收效应74

4.2.2 增强效应75

4.3 基体效应的数学校正77

4.3.1 经验系数法77

4.3.2 基本参数法81

4.3.3 理论影响系数法83

4.4 实验校正法85

4.4.1 内标法85

4.4.2 标准加入法(增量法)90

4.4.3 稀释法91

4.5 定量分析的谱线干扰和校正92

4.5.1 定量分析的谱线干扰92

4.5.2 谱线干扰的消除和校正94

4.6 定量分析步骤97

4.6.1 定量分析测定条件选择97

4.6.2 定量分析流程100

4.7 定量分析误差101

4.7.1 误差的种类101

4.7.2 统计误差的处理101

4.7.3 精密度和准确度102

4.7.4 死时间和计数的漏计104

4.7.5 灵敏度 检测限 测定下限105

4.8 定量分析管理106

4.8.1 X射线强度的标准化106

4.8.2 分析管理109

4.9 薄膜和多层膜分析109

4.9.1 薄膜X射线荧光光谱分析的一般概念110

4.9.2 多层薄膜的基本参数法114

4.9.3 薄膜分析的应用116

第五章 取样、制样和样品保管120

5.1 X射线荧光分析样品误差的类型120

5.2 样品制备的一般方法120

5.3 金属样品的取样和制样122

5.3.1 金属样品的取样122

5.3.2 金属样品的表面处理126

5.4 粉末样品的取样和制样128

5.4.1 粉末样品的主要误差来源128

5.4.2 取样130

5.4.3 压片法130

5.4.4 特殊粉末制样法134

5.5 熔融制样法136

5.5.1 玻璃熔片法136

5.5.2 熔融条件的选择137

5.5.3 熔融过程和注意事项141

5.6 液体样品的取样和制样144

5.6.1 直接溶液法144

5.6.2 纸上点滴法146

5.6.3 分离富集法148

5.7 特殊样品制样法150

5.8 样品的保存151

5.8.1 金属样品的保存151

5.8.2 粉末样品的保存152

第六章 能量色散及其他X射线荧光光谱分析方法153

6.1 能量色散X射线荧光光谱分析153

6.1.1 概述153

6.1.2 能量色散X射线荧光光谱仪154

6.1.3 应用163

6.2 全反射X射线荧光光谱分析164

6.2.1 概述164

6.2.2 全反射X射线荧光光谱仪166

6.2.3 应用168

6.3 同步辐射X射线荧光光谱分析170

6.3.1 概述170

6.3.2 同步辐射源171

6.3.3 应用172

6.4 微束X射线荧光光谱分析174

6.4.1 概述174

6.4.2 微束X射线荧光光谱仪174

6.4.3 应用175

6.5 质子激发X射线分析176

6.5.1 概述176

6.5.2 质子激发X射线分析装置177

6.5.3 应用177

参考文献179

附录1 物理和化学基本常数183

附录2 元素及化合物密度184

附录3 吸收限波长和临界激发能量189

附录4 特征X射线波长和能量193

附录5 K壳层荧光产额ωk207

附录6 K系伴线波长(?)208

附录7 K系线辐射跃迁几率210

附录8 干扰谱线表212

附录9 (a)质量吸收系数(μ/ρ:cm2/g)219

附录9 (b)质量吸收系数(Mα、Mβ线)247

附录10 熔融制样烧失量校正方法和实例255

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