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前言1

第一章 晶体学的基础知识1

1.1 晶体的一般概念1

1.2 晶体的分类1

1.3 晶体的通性4

1.4 晶体的几何学6

1.4.1 晶体的对称性6

1.4.2 晶体的外形17

1.4.3 晶面有理数定理28

1.4.4 晶面符号29

1.5 晶体坐标轴的选择规则31

1.6 晶带36

1.7 面间距d的计算37

1.8 230种空间群39

参考文献41

第二章 X射线衍射的基本知识42

2.1 X射线42

2.1.1 X射线的名称及其性质42

2.1.2 X射线的产生43

2.1.3 X射线谱44

2.1.4 X射线的吸收46

2.2 X射线在点阵平面上的反射48

2.2.1 布喇格定律48

2.2.2 系统消光及其应用49

参考文献50

3.2 定向原理与常规应用51

第三章 X射线定向仪51

3.1 概述51

3.3 X射线管与谱线的选择55

3.4 双反射单色器57

3.5 盖革计数管及其电路58

3.6 仪器零位调整59

3.6.1 X射线管位置的调整59

3.6.2 单反射型调零59

3.6.3 双反射型调零60

3.7 仪器维修61

参考文献63

4.1 关于晶体定向的概念69

第四章 晶体的快速定向法69

4.2 晶面夹角的计算及其在定向中的应用70

4.3 棒状晶体的快速定向法72

4.3.1 人工合成棒状晶体结晶学特性72

4.3.2 定向方法75

4.4 测定(hkl)面族中多级衍射等偏角的简易定向法76

4.4.1 基本概念和原理76

4.4.2 定向方法76

4.4.3 应用实例78

4.5 测定同一晶面(θκα--θκβ)角差(δ)的定向法79

4.5.1 原理和方法79

4.5.2 测量精度分析81

4.5.3 应用实例81

4.6 测定晶棒端面面指数的定向方法82

4.7 几种定向方法的配合应用83

4.8 X射线定向仪的快速定向法应用于衍射仪84

4.8.1 棒状晶体在衍射仪上的定向方法84

4.8.2 2θ及θ角调节定向法85

4.8.3 2θ及θ固定，调节样品方位的定向法86

4.9 部分晶体粉末衍射谱线卡88

参考文献152

第五章 晶体检测的其他几种方法153

5.1 单晶与多晶的快速鉴别153

5.2 棒状晶体轴向差的快速测定154

5.2.1 测定方法154

5.2.2 误差分析155

5.2.3 应用实例156

5.3 晶体晶胞常数及其变化的测定159

5.3.1 原理及计算方法159

5.3.2 测量误差分析及其校正161

5.3.3 应用实例164

5.4 晶体连生体的简易检测法165

5.4.1 检测方法166

5.4.2 应用实例167

5.5 应用X射线定向仪快速检测金属单晶丝的方法175

5.5.1 仪器的调整及样品放置175

5.5.2 检测内容及方法176

5.5.3 应用实例178

5.6.1 多晶、多晶择优取向及单晶金属材料的区别181

5.6 金属多晶材料择优取向的快速测定181

5.6.2 方法与实例182

5.7 附表185

附表1：立方系晶体晶面夹角185

附表2：230种空间群及其反射条件188

附表3：d值与(θκα--θκβ)角差关系表195

参考文献217

第六章 水晶的切割定向218

6.1 水晶的结晶与形态学218

6.2 水晶的对称和坐标系219

6.3 水晶晶面单形代号与布喇维面指数关系221

6.4 水晶器件的各种切型与符号222

6.5 晶片在直角坐标系中的方位227

6.6 水晶的X射线定向231

6.7 水晶的常见晶面与柱面及菱面的夹角233

参考文献233

第七章 YVO4晶体238

7.1 YVO4晶体的结构与形态238

7.2 YVO4的直角坐标与定向切割239

7.2.1 YVO4的直角坐标239

7.2.2 YVO4的定向切割239

7.3 YVO4晶面夹角与极图242

7.3.1 晶面夹角计算242

7.3.2 极图的绘制244

7.4 YVO4的双晶缺陷和晶面的完整性244

7.4.1 双晶244

7.4.2 几种晶体的回摆曲线247