图书介绍
集成电路测试技术与实例PDF|Epub|txt|kindle电子书版本网盘下载
- 峥嵘等编 著
- 出版社： 北京希望电脑公司
- ISBN：
- 出版时间：1992
- 标注页数：124页
- 文件大小：7MB
- 文件页数：131页
- 主题词：
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图书目录
第一章 可测试结构化逻辑1
1．1简介1
1．2电平敏感设计1
1．3无冒险触发器2
1．4设计结构5
1．5设计规则的优越性7
1．6价格/性能影响8
小结9
第二章 存贮阵列中的应用10
2．1简介10
2．2埋层阵列（Burried Arrays）的设计结构11
2．3测试埋层阵列11
小结13
第三章 锁存器设计14
3．1简介14
3．2影响触发器设计的因素14
3．3触发器设计问题16
3．4“电气”无冒险触发器16
3．5另外的触发器设计法16
小结20
第四章 系统建立和现场服务21
4．1概述21
4．2利用LSSD结构21
小结22
5．1简介23
5．2假设和推导23
第五章 故障率和故障覆盖率23
小结26
第六章 VLSI测试的发展趋势27
6．1简介27
6．2微处理器Ⅰ27
6．3微处理器Ⅱ29
6．4微处理器Ⅲ29
6．5 VLSI测试问题30
6．6测试选择项32
小结32
第七章 随机模式33
7．1概述33
7．2随机模式的应用34
7．4优化策略36
7．3在PLA中应用随机模式36
小结38
第八章 PLA的测试模式生成器39
8．1测试目标和故障假定39
8．2测试生成过程42
8．3特别的结束程序45
8．4故障模型化的要点46
8．5结果48
小结48
第九章 特征分析寄存器和屏蔽错误49
9．1简介49
9．2推导屏蔽边界50
9．3定义和符号52
9．4代数描述推导的屏蔽错误边界53
9．5屏蔽和马尔可夫链54
9．6马尔可夫链分析56
9．7特征分析测试的长度下限60
小结63
第十章 随机模式自测64
10．1一种RP自测结构64
10．2随机自测模式的覆盖率67
10．3为RP的可测试性而修改电路67
10．4修改大型“与”网络68
10．5 PLA电路的一和RP可测试设计71
小结72
11．1简介74
11．2一个随机模式测试系统74
第十一章 随机模式测试系统74
11．3 LSSD随机模式应用方法76
11．4错误模拟结果76
11．5一个随机模式测试器78
11．6测试实验结果78
小结79
第十二章 固定错误模拟80
12．1简介80
12．2组合错误模拟方法80
12．3基准设计的模拟结果82
12．4 PPSFP模拟到LSSD网络的扩展85
12．5随机模式测试86
小结87
13．1简介88
13．2过渡错误的定义88
第十三章 延迟错误模拟88
13．3过渡错误等价类90
13．4过渡错误模拟方法90
13．5基准设计的模拟结果92
13．6扩展到扫描结构化设计94
小结96
第十四章 加权随机模式97
14．1简介97
14．2动机97
14．3 WRP模式应用序列98
14．4初始权产生101
14．5建立一个完全WRP测试的方法107
小结109
15．2基准设计的固定错误覆盖率110
15．3非定型错误110
第十五章 WRP错误覆盖率110
15．1简介110
15．4过渡和桥接错误模拟112
小结115
第十六章 故障诊断116
16．1简介116
16．2由错误模拟执行诊断117
16．3错误表产生118
16．4与故障有关的错误119
16．5论断方法120
16．6随机模式故障诊断122
16．7论断实验123
小结124