图书介绍

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界面插层调控磁阻薄膜材料电输运性能研究
  • 丁雷著 著
  • 出版社: 北京:原子能出版社
  • ISBN:9787502281847
  • 出版时间:2018
  • 标注页数:116页
  • 文件大小:13MB
  • 文件页数:126页
  • 主题词:磁阻半导体-研究

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图书目录

第1章 磁电阻薄膜材料简介1

1.1 自旋电子学与磁电阻效应概况1

1.2 各向异性磁电阻效应3

1.2.1 微观理论3

1.2.2 磁化特性5

1.2.3 常用各向异性磁电阻材料10

1.3 巨磁电阻效应13

1.3.1 多层膜巨磁电阻效应和双电流模型13

1.3.2 自旋阀巨磁电阻效应15

1.4 自旋电子的镜面反射23

1.4.1 镜面反射原理及其在纳米氧化层自旋阀中的应用23

1.4.2 电子镜面反射对各向异性磁电阻的作用26

第2章 NiFe薄膜材料研究现状28

2.1 成分与厚度对电输运性能影响研究28

2.2 晶粒尺寸与织构对电输运性能影响研究31

2.3 不同种子层对电输运性能影响研究33

2.4 利用界面插层提高电输运性能研究36

第3章 薄膜制备及结构性能表征方法38

3.1 薄膜制备38

3.1.1 基片清洗过程38

3.1.2 薄膜样品制备38

3.1.3 元件制备方法40

3.1.4 样品的真空退火处理42

3.2 薄膜结构性能表征方法43

3.2.1 标准四探针法43

3.2.2 振动样品磁强计44

3.2.3 X射线光电子能谱45

3.2.4 X射线衍射47

3.2.5 透射电子显微镜48

第4章 非晶氧化物界面插层研究51

4.1 概论51

4.2 SiO2界面插层研究52

4.2.1 SiO2界面插层对NiFe薄膜电输运性能影响52

4.2.2 SiO2界面插层对NiFe薄膜磁性影响53

4.3 Al2O3界面插层研究55

4.3.1 Al2O3界面插层对制备态NiFe薄膜结构与性能影响55

4.3.2 Al2O3界面插层对退火态NiFe薄膜结构与性能影响57

第5章 晶体氧化物界面插层研究63

5.1 概论63

5.2 MgO晶体氧化物界面插层研究63

5.2.1 不同MgO插层位置对NiFe薄膜结构与性能影响64

5.2.2 退火对Ta/MgO/NiFe/MgO/Ta薄膜结构与性能影响67

5.3 ZnO晶体氧化物界面插层研究71

5.3.1 ZnO界面插层对NiFe薄膜结构与电输运性能影响72

5.3.2 高温退火对Ta/NiFe/ZnO/Ta薄膜磁性影响75

第6章 具有强自旋轨道耦合的贵金属界面插层研究78

6.1 概论78

6.2 贵金属Au界面插层研究79

6.2.1 Au界面插层对NiFe薄膜结构与性能影响79

6.2.2 Ta/Au/NiFe/Au/Ta薄膜微结构研究81

6.3 贵金属Pt界面插层研究83

6.3.1 Pt界面插层对Ta/NiFe/Ta薄膜结构与性能影响83

6.3.2 Pt界面插层对NiFeCr/NiFe/Ta薄膜结构与性能影响87

第7章 其它类型界面插层材料研究91

7.1 概论91

7.2 磁性金属氧化物CoFeOx界面插层研究91

7.2.1 单层CoFeOx对NiFe薄膜结构与性能影响92

7.2.2 双层CoFeOx对NiFe薄膜结构与性能影响95

7.3 非磁AlN界面插层研究97

7.3.1 AlN界面插层对NiFe薄膜电输运性能影响97

7.3.2 AlN界面插层对NiFe薄膜微结构影响99

参考文献105

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