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1 基本概念与仪器1

1.1 术语和单位1

1.1.1 反射1

1.1.2 透射4

1.1.3 吸收5

1.1.4 逆反射6

1.1.5 荧光7

1.1.6 偏振7

1.2 光谱的产生及其范围7

1.2.1 原子光谱8

1.2.2 电子光谱9

1.2.3 分子光谱10

1.2.4 红外分光光度法11

1.3 光谱光度学11

1.3.1 光束通过半透明试样的行为12

1.3.2 光谱光度学的测量体系12

1.4.1 紫外可见光谱区的仪器部件14

1.4 光谱光度仪器14

1.4.2 紫外可见区的测试仪器21

1.4.3 红外光谱区的仪器部件25

1.4.4 红外光谱区的测试仪器30

1.4.5 真空紫外光谱仪32

1.4.6 发射光谱仪部件33

1.4.7 摄谱仪36

1.4.8 显微密度计38

2.1 紫外-可见分光光度学的特点39

2 吸收(透射)光谱测量39

2.1.1 比耳-朗伯定律40

2.1.2 吸收度测量的误差源41

2.1.3 使用注意问题42

2.2 比色皿的设计、制作及其性能测试48

2.2.1 定义48

2.2.2 比色皿的分类53

2.2.3 比色皿的分级55

2.2.4 高准确比色皿55

2.2.5 比色皿的材料及其制作56

2.2.6 比色皿的设计61

2.2.7 比色皿的性能测试63

2.3 液体吸收(透射)标准66

2.3.1 200～400mm波长的标准液67

2.3.2 400～800mm波长的标准液75

2.3.3 200～800mm波长的标准液79

2.4 固体吸收(透射)标准80

2.4.1 吸收标准应具备的性质81

2.4.2 玻璃滤光器81

2.4.4 三偏振器84

2.4.3 其它玻璃84

2.4.5 金属网86

2.4.6 扇形盘86

2.4.7 金属膜滤光器86

2.4.8 光束叠加法88

2.5 杂散光及其检测90

2.5.1 定义90

2.5.2 杂散辐射的起因与影响91

2.5.3 杂散光引起的误差92

2.5.4 减少杂散光的措施96

2.5.5 杂散光的测量方法97

2.6 透射比(吸光度)测量101

2.6.1 透射测量的几何条件102

2.6.2 透射比的测量方法103

2.7 光谱透射比(吸收度)基准107

2.7.1 基准装置的必备条件107

2.7.2 基准装置的原理结构107

2.7.3 基准装置的测量不确定度109

3 反射光谱测量110

3.1 库贝尔卡-芒克理论111

3.1.1 方程的适用条件112

3.1.2 对偏离方程现象的解释113

3.1.3 方程的推导113

3.1.4 漫反射函数的确定116

3.2 漫反射测量的几何条件118

3.2.1 漫反射比测量的几何条件118

3.2.2 反射比的数学表达式120

3.2.3 漫反射因数测量的几何条件120

3.2.4 反射因数的数学表达式122

3.3.1 绝对测量法123

3.3 漫反射比测量123

3.3.2 相对测量法125

3.3.3 漫反射比基准126

3.4 漫反射因数测量128

3.4.1 绝对测量法128

3.4.2 相对测量法129

3.4.3 漫反射因数基准129

3.5.1 测量仪器的发展132

3.5 漫反射分布测量132

3.5.2 偏镜反射峰133

3.6 规则反射比测量138

3.6.1 绝对测量法138

3.6.2 相对测量法139

3.6.3 规则反射比基准139

3.6.4 菲涅耳反射系数142

3.7 工业测量143

3.7.1 总辐亮度因数测量143

3.7.2 衰减全反射测量145

3.8.1 漫反射标准器的技术要求146

3.8 反射标准器146

3.8.2 漫反射标准器147

3.8.3 规则反射标准器的技术要求152

3.8.4 规则反射标准器152

3.9 波长标准器152

3.9.1 原子发射线谱灯153

3.9.2 强吸收带物质154

3.10.2 直接法156

3.10.3 辅助法156

3.10 逆反射测量156

3.10.1 相对法156

3.10.4 替代法158

3.10.5 光谱辐射法158

4 荧光光谱测量160

4.1 光致发光161

4.2 术语和单位163

4.3 分析用荧光光谱仪166

4.4 荧光色测量177

4.5 单色仪波长校准186

4.5.1 校准方法的特点186

4.5.2 利用仪器自身的光源187

4.5.3 使用辅助光源187

4.5.4 使用窄带荧光188

4.6 荧光光谱仪的杂散光189

4.6.1 杂散光产生的误差190

4.6.2 光栅单色仪的杂散光190

4.7 荧光光谱仪灵敏度的评定原则191

4.7.1 灵敏度的定义192

4.7.2 检测限法192

4.7.3 信噪比法193

4.8 校正发射谱的次级标准195

4.8.1 标准化合物的技术要求195

4.8.2 硫酸奎宁196

4.8.3 其它溶液标准196

4.8.4 固体标准197

4.9.1 影响光子产额测量的因素198

4.9 光子产额的测定198

4.9.2 测量光子产额的基本方法201

4.9.3 测量光子产额的简易方法203

4.10 校正激发谱和校正发射谱数据204

4.10.1 仪器配置及其参数204

4.10.2 图4-20～4-22光谱曲线的测量条件204

4.10.3 光谱曲线的验证214

5.1.2 光路的调整215

5.1.1 装置的构成与技术要求215

5.1 偏振器对的消光比测量215

5 偏振与发射光谱测量215

5.1.3 测量方法216

5.2 发射光谱测量方法216

5.2.1 定性分析216

5.2.2 定量分析217

5.3 光栅摄谱仪的检定218

5.3.1 综述218

5.3.2 检定方法218

参考文献221