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目录1

第一章 序言1

1.1 绪论1

1.2 历史的回顾1

1.3 可靠性的定义3

1.4 什么是可靠性的效用？4

1.5 平均故障间隔时间7

1.6 平均失效时间9

1.7 可用性9

1.8 不可用性或停机率11

1.9 环境条件的影响12

1.10 故障率和平均故障间隔时间（MTBF）的一般定义14

第二章 数学基础18

2.1 概率18

2.2 概率的古典定义18

2.3 用相对频率定义概率20

2.4 对立事件20

2.5 复合事件21

2.6 相容事件的联合概率24

2.7 一般加法定理26

2.8 条件概率28

2.9 贝叶斯定理30

2.10 概率图表33

2.11 二项式分布35

2.12 二项式分布应用举例40

2.13 最大可能出现的结果43

2.14 泊松分布44

2.15 泊松分布应用举例47

2.16 指数失效定律49

2.17 统计学53

2.18 平均值53

2.19 其它定位度量法54

2.20 变率55

2.21 态分布57

3.2 可靠性模型62

3.1 系统划分62

第三章 可靠性预测62

3.3 串联系统的失效分析64

3.4 串联系统应用举例66

3.5 并联系统68

3.6 其它并联结构69

3.7 并联系统应用举例70

3.8 混合系统的分析72

3.9 冗余度的使用73

3.10 时间冗余度75

3.11 纠错编码77

3.12 多通道冗余度79

3.13 冗余级82

3.14 双重开关装置的使用86

3.15 三重冗余度87

3.16 二重系统和三重系统的比较89

3.17 四重逻辑92

3.18 冗余系统的平均故障间隔时间93

3.19 近似的方法96

3.20 集成电路97

3.21 设计故障100

3.22 软件故障101

3.23 失效方式对设计的影响102

4.1 失效率随时间变化105

第四章 元件失效数据105

4.2 失效的类型107

4.3 影响失效率的因素109

4.4 温度的影响110

4.5 温度和失效率110

4.6 估计内部温升113

4.7 电源电压的影响115

4.8 环境因素116

4.9 测量失效率的难点117

4.10 失效率数据的来源118

4.11 置信度极限和可信度121

4.12 评价试验结果122

4.13 序贯试验125

4.14 仪器的环境试验127

4.15 筛选和失效方式分析130

4.16 筛选试验131

4.17 对特别高的可靠性的需要132

第五章 可靠性设计136

5.1 可靠性设计的几个方面136

5.2 元件公差的影响137

5.3 最坏情况下设计开关线路138

5.4 最坏情况下设计的困难140

5.5 统计设计141

5.6 元件选择141

5.7 降额使用以提高可靠性144

5.8 对元件质量的评价145

5.9 机械设计148

5.10 干扰和噪声的防护149

5.11 冗余度的使用152

5.12 需维修的和不需维修的系统154

5.13 故障指示器的使用155

5.14 数字故障指示器156

5.15 模拟冗余度157

5.16 并联冗余度159

5.17 “失效—安全”线路161

5.18 集成电路冗余度164

5.19 今后发展的趋势168